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RFID测试工具

高频/低频测试仪T8200PRO-G

  • 频率设置范围:10KHz~100MHz
  • 测量点数:100~2048 点
  • 可调的射频功率(@50Ωload):-30~15dBm
  • 测量原理:磁场耦合
  • 测量内容:传输电压和反射电压的振幅
  • 检测项目:谐振频率、衰减量、Q值、UID、芯片类型(部分)
  • 尺寸、重量:125(W)165(D)x40(H),0.8kg
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简介

T8200PRO-G是一款来自日本Testram公司的顶级RFID综合测试仪。对RFID、智能卡(非接及双界面)、无线供电、功率电感器的研发及制造、科研教育、实验室或检测机构,以及集成到自动化生产线上都是不二之选!

功能特点

精准测量各种尺寸规格的低频和高频谐振器件的性能参数,包括:

   谐振频率、衰减量、Q值、支持读取UID码以及部分芯片类型的识别

能测试传输或反射特性(包括方向耦合),可调射频输入功率,模拟读卡器

测试结果和波形能自动写入日志文件
预设测试范围,判定样品是否合格

单机联电脑版(单品测试用)以及联机自动化方案(批量生产用)

应用范围

※ 智能卡、RFID标签的谐振频率检测:

    判断测量结果是否通过;自动生成检查日志文件;可调射频功率-30dBm~15dBm

    芯片绑定前可对射频天线检测,如双界面卡的线圈inlay

RFID读写天线的谐振频率检测
无线供电线圈及功率电感器件的自谐振频率检测
单机联电脑版(单品测试用)以及联机自动化方案(批量生产用)
测试原理

检测显示屏

产品规格
测量原理 磁场耦合
测量内容 传输电压和反射电压的振幅
检测项目 谐振频率、衰减量、Q值、UID、芯片类型(部分)
支持协议 ISO14443A(如MIFARE Classic, MIFARE Ultralight)
ISO14443B(仅PUPI),Felica
ISO15693 (如Tag-it HF-I Plus/Pro,ICODE SLIX2)
测量点数 100~2048 点
检测时间
高频频段测量点数=1000
谐振频率检测:0.5秒
谐振频率和UID读取:1秒
检测结果
检测波形保存功能
检测日志文件(csv):
UID、通过/不通过、谐振频率、衰减、Q值
波形数据:.csv,.jpg
频率设置范围 10KHz~100MHz
可调的射频功率(@50Ωload) -30~15dBm
DIO电路类型 隔离I/O
支持系统 PC(OS) Windows7,Windows8.1,Windows10
USB2.0或更高
电源 USB总电源(小号电源500毫安或以下)
包装清单 主机、USB接口线、同轴电缆(2根)、高频标准卡尺寸测试治具、可选的不同尺寸规格测试天线板、安装驱动盘
尺寸、重量 125(W)165(D)x40(H)(不包括测试治具),0.8kg

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